第一章 单元测试

1、单选题：
X射线衍射方法中最常用的方法是（ ）。
选项：
A:周转晶体法。
B:粉末多晶法
C:劳厄法
答案: 【粉末多晶法】

2、单选题：
已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ ）。
选项：
A:Ni
B:Fe。
C:Co
答案: 【Ni】

3、单选题：
X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ ）。
选项：
A:戴维无机字母索引
B:芬克无机数值索引
C:哈氏无机数值索引
答案: 【戴维无机字母索引】

4、判断题：
在X射线衍射实验中，用Cu靶和Mo靶分别为同一Al粉末试样作衍射，在其它试验条件基本相同时，最终所标定的三条最强的衍射峰的指数将不同 （ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

5、判断题：
物质的电子衍射所遵循的消光规律与其X射线衍射的消光规律不同，因为电子的波长远远小于X射线的波长。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

第二章 单元测试

1、单选题：
在TEM中，样品通常需要处理成什么状态？（ ）
选项：
A:薄膜状
B:块状
C:液体状
D:粉末状
答案: 【薄膜状】

2、单选题：
以下哪种技术不是TEM的成像模式？（ ）
选项：
A:相位对比成像
B:暗场成像
C:原子力显微镜（AFM）
D:明场成像
答案: 【原子力显微镜（AFM）】

3、多选题：
在TEM样品制备中，以下哪些步骤是必要的？（ ）
选项：
A:样品的镀膜处理
B:样品的离子减薄
C:样品的表面抛光
D:样品的超薄切片
答案: 【样品的镀膜处理;
样品的离子减薄;
样品的超薄切片】

4、判断题：
透射电子显微镜（TEM）只能用于观察金属样品。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【错】

5、判断题：
在透射电子显微镜（TEM）中，样品必须非常薄，以便电子束能够穿透。（ ）
选项：
A:对
B:错
答案: 【对】